Starke, Renan AugustoFarias, Carolina de2026-10-082026-10-082023-06-30FARIAS, Carolina de. Desenvolvimento de uma jiga de testes automatizados para componentes eletrônicos digitais utilizando o Robot Framework. 2023. Trabalho de Conclusão de Curso (Bacharelado em Engenharia Eletrônica) – Instituto Federal de Santa Catarina, Florianópolis, 2023https://repositorio.ifsc.edu.br/handle/1/2692Este trabalho apresenta o desenvolvimento e a implementação de uma jiga de testes automatizados para componentes eletrônicos digitais utilizando o framework de testes Robot Framework. Desse modo, a interface de hardware empregada para a alimentação dos componentes em teste, geração e aquisição de sinais consistiu no dispositivo DAQ USB-6212 da fabricante National Instruments. No contexto desse estudo, as portas lógicas foram os componentes eletrônicos digitais empregados para validar a eficiência da jiga de testes. Com o intuito de verificar o funcionamento correto dos componentes, foi adotado a metodologia de testes funcionais nos componentes em teste. Para armazenar os esquemáticos de ligação dos componentes, do DAQ, os dados de entrada dos testes e os resultados esperados, optou-se por utilizar o banco de dados em nuvem MongoDB. Essa abordagem possibilitou a geração automática dos esquemáticos de ligação entre o DAQ e os componentes em teste e também viabilizou que os testes funcionais fossem empregados para validar os componentes. Nesse sentido, de modo a facilitar a descrição clara e concisa dos casos de testes em que os componentes estão submetidos, foi empregado a utilização da sintaxe Gherkin no Robot Framework. Assim, a rastreabilidade dos componentes com defeitos e a análise de outras métricas de teste, como o tempo total de execução, podem ser realizadas por meio do relatório de testes gerado ao final da execução dos testes em cada componente.This document presents the development and implementation of an automated test jig for digital electronic components using the framework for automated testing Robot Framework. The hardware interface used to power the components, and generate and acquire signals consisted of the DAQ device USB-6212 from the manufacturer National Instruments. In this document, the logic gates were the digital electronic components used to validate the test jig efficiency. In order to verify the correct functioning of the components, the methodology of functional tests was adopted in the components under test. To store component diagrams, the diagram from DAQ, test input data, and expected results were used in the MongoDB cloud database. This approach enabled the automatic generation of connection schematics between the DAQ and the components under test and also enabled the functional tests to be used to validate the components. In order to facilitate the clear and concise description of the test cases in which the components under test are submitted, the use of the Gherkin syntax was used in the Robot Framework. The traceability of components with defects and the analysis of other test metrics, such as the total execution time, can be performed through the test report generated at the end of the test execution in each component.Português BrasilAparelhos e materiais eletrônicosAutomação de testesJiga de testesTrabalho de conclusão de graduaçãoAcesso AbertoENGENHARIAS