dc.contributor.advisor |
Pacheco, Fernando Santana |
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dc.contributor.author |
Banderchuk, Ana Cláudia |
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dc.date.accessioned |
2021-05-21T19:26:01Z |
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dc.date.available |
2021-05-21T19:26:01Z |
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dc.date.issued |
2021 |
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dc.identifier.uri |
https://repositorio.ifsc.edu.br/handle/123456789/2052 |
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dc.language.iso |
pt_BR |
pt_BR |
dc.subject |
Aprendizado profundo |
pt_BR |
dc.subject |
Placas de circuito impresso - PCI |
pt_BR |
dc.subject |
Redes neurais |
pt_BR |
dc.title |
Detecção de defeitos de fabricação em placas de circuito impresso utilizando técnicas de aprendizado profundo |
pt_BR |
dc.type |
Final Paper |
pt_BR |
local.institution.discipline |
Engenharia Eletrônica |
pt_BR |
local.institution.campus |
Florianópolis |
pt_BR |
local.institution.department |
Eletrônica |
pt_BR |
local.institution |
Instituto Federal de Santa Catarina - IFSC |
pt_BR |