Desenvolvimento de uma jiga de testes automatizados para componentes eletrônicos digitais utilizando o Robot Framework

dc.contributor.advisorStarke, Renan Augusto
dc.contributor.advisorIDhttps://orcid.org/0000-0002-6845-344X
dc.contributor.advisorLatteshttp://lattes.cnpq.br/6573744620845452
dc.contributor.authorFarias, Carolina de
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/0687140421494101
dc.contributor.referee1Lohmann, Daniel
dc.contributor.referee1Latteshttp://lattes.cnpq.br/8484239081492938
dc.contributor.referee2Steinbach, Reginaldo
dc.contributor.referee2Latteshttp://lattes.cnpq.br/5054506554380972
dc.date.accessioned2026-10-08T10:46:56Z
dc.date.available2026-10-08T10:46:56Z
dc.date.issued2023-06-30
dc.description.abstractEste trabalho apresenta o desenvolvimento e a implementação de uma jiga de testes automatizados para componentes eletrônicos digitais utilizando o framework de testes Robot Framework. Desse modo, a interface de hardware empregada para a alimentação dos componentes em teste, geração e aquisição de sinais consistiu no dispositivo DAQ USB-6212 da fabricante National Instruments. No contexto desse estudo, as portas lógicas foram os componentes eletrônicos digitais empregados para validar a eficiência da jiga de testes. Com o intuito de verificar o funcionamento correto dos componentes, foi adotado a metodologia de testes funcionais nos componentes em teste. Para armazenar os esquemáticos de ligação dos componentes, do DAQ, os dados de entrada dos testes e os resultados esperados, optou-se por utilizar o banco de dados em nuvem MongoDB. Essa abordagem possibilitou a geração automática dos esquemáticos de ligação entre o DAQ e os componentes em teste e também viabilizou que os testes funcionais fossem empregados para validar os componentes. Nesse sentido, de modo a facilitar a descrição clara e concisa dos casos de testes em que os componentes estão submetidos, foi empregado a utilização da sintaxe Gherkin no Robot Framework. Assim, a rastreabilidade dos componentes com defeitos e a análise de outras métricas de teste, como o tempo total de execução, podem ser realizadas por meio do relatório de testes gerado ao final da execução dos testes em cada componente.
dc.description.abstractThis document presents the development and implementation of an automated test jig for digital electronic components using the framework for automated testing Robot Framework. The hardware interface used to power the components, and generate and acquire signals consisted of the DAQ device USB-6212 from the manufacturer National Instruments. In this document, the logic gates were the digital electronic components used to validate the test jig efficiency. In order to verify the correct functioning of the components, the methodology of functional tests was adopted in the components under test. To store component diagrams, the diagram from DAQ, test input data, and expected results were used in the MongoDB cloud database. This approach enabled the automatic generation of connection schematics between the DAQ and the components under test and also enabled the functional tests to be used to validate the components. In order to facilitate the clear and concise description of the test cases in which the components under test are submitted, the use of the Gherkin syntax was used in the Robot Framework. The traceability of components with defects and the analysis of other test metrics, such as the total execution time, can be performed through the test report generated at the end of the test execution in each component.
dc.identifier.citationFARIAS, Carolina de. Desenvolvimento de uma jiga de testes automatizados para componentes eletrônicos digitais utilizando o Robot Framework. 2023. Trabalho de Conclusão de Curso (Bacharelado em Engenharia Eletrônica) – Instituto Federal de Santa Catarina, Florianópolis, 2023
dc.identifier.urihttps://repositorio.ifsc.edu.br/handle/1/2692
dc.language.isoPortuguês Brasilpt_BR
dc.publisherInstituto Federal de Santa Catarinapt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentCâmpus Florianópolispt_BR
dc.publisher.initialsIFSCpt_BR
dc.publisher.programBacharelado em Engenharia Eletrônicapt_BR
dc.rights.accessAcesso Aberto
dc.subjectAparelhos e materiais eletrônicos
dc.subjectAutomação de testes
dc.subjectJiga de testes
dc.subject.cnpqENGENHARIAS
dc.titleDesenvolvimento de uma jiga de testes automatizados para componentes eletrônicos digitais utilizando o Robot Framework
dc.typeTrabalho de conclusão de graduaçãopt_BR

Arquivos

Pacote Original

Agora exibindo 1 - 1 de 1
Carregando...
Imagem de Miniatura
Nome:
Carolina_de_Farias - TCC.pdf
Tamanho:
2.57 MB
Formato:
Adobe Portable Document Format

Licença do Pacote

Agora exibindo 1 - 1 de 1
Carregando...
Imagem de Miniatura
Nome:
license.txt
Tamanho:
1.71 KB
Formato:
Item-specific license agreed to upon submission
Descrição: